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同惠TH2851系列 精密阻抗分析儀

簡(jiǎn)要描述:同惠TH2851系列 精密阻抗分析儀是常州同惠電子采用當(dāng)前*自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器,為國(guó)產(chǎn)阻抗測(cè)試儀器的新高度。TH2851系列阻抗分析儀*顛fu了傳統(tǒng)國(guó)產(chǎn)儀器復(fù)雜繁瑣的操作界面,基于Windows10操作系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)了全電腦化操作界面,讓測(cè)試更智能、更簡(jiǎn)便。TH2851系列阻抗分析儀也*超越了國(guó)外同類(lèi)儀器120MHz的頻率瓶頸;

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商
  • 更新時(shí)間:2023-12-06
  • 訪  問(wèn)  量:1356

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詳細(xì)介紹

品牌同惠電子產(chǎn)地類(lèi)別國(guó)產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子,航天,汽車(chē),電氣

同惠TH2851系列 精密阻抗分析儀

性能

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同惠TH2851系列 精密阻抗分析儀

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A.  高精度

自動(dòng)平衡電橋技術(shù)的應(yīng)用,得以在10Hz-130MHz頻率、1mΩ-100M的阻抗范圍內(nèi)都能達(dá)到理想的測(cè)量精度,其中z高精度達(dá)0.08%,遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于射頻反射測(cè)量法的阻抗分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀的精度。

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B.  高穩(wěn)定性和高一致性

下圖是在速度5、測(cè)試頻率1MHz,測(cè)量100Ω電阻的曲線,由下圖可見(jiàn)其軌跡噪聲≦0.003%(≦±0.0015Ω)

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C.  高速度

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D.  10.1寸大屏,四種測(cè)量參數(shù),讓細(xì)節(jié)一覽無(wú)遺

10.1寸觸摸屏、1280*800分辨率,Windows10系統(tǒng)、中英文操作界面,支持鍵盤(pán)、鼠標(biāo)、LAN、VGA/HDMI接口,帶來(lái)的是無(wú)以倫比的操作便捷性。

大屏幕帶來(lái)更多的好處是,可以把所有測(cè)試參數(shù)及分選參數(shù)、分選結(jié)果、功能選擇等參數(shù)放置在同一屏幕,而且看起來(lái)絕不擁擠和雜亂,同時(shí)可以顯示四種測(cè)量參數(shù),四種測(cè)量參數(shù)任意可調(diào)。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測(cè)試參數(shù)

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E.  增強(qiáng)的列表掃描功能

可以z多設(shè)置1601點(diǎn)的列表掃描,每個(gè)點(diǎn)可以單獨(dú)設(shè)置測(cè)試頻率、測(cè)試電壓、直流偏置等測(cè)試條件

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F.  強(qiáng)大的分析圖形界面


z多通道可以z多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法

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G.分段掃描功能

z多可以4通道同時(shí)顯示,每個(gè)通道可以z多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法。分段掃描是在一個(gè)掃描周期內(nèi),設(shè)置不同的頻率分段進(jìn)行掃描,掃描時(shí)可設(shè)置不同的電平及偏置,掃描結(jié)果直接圖形顯示,用于需要快速篩選多個(gè)頻率段參數(shù)的掃描需求。

如晶體諧振器需要測(cè)試標(biāo)稱(chēng)諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率,通過(guò)分段掃描共呢個(gè)可在特定頻率范圍內(nèi)掃描測(cè)量,無(wú)需掃描不相關(guān)頻率。

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H.強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力

TH2851系列精密阻抗分析儀具有強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力,可以通過(guò)光標(biāo)實(shí)現(xiàn)如下功能:

1. 讀取測(cè)量結(jié)果的數(shù)值(作為絕對(duì)數(shù)值或者相對(duì)于參考點(diǎn)的相對(duì)值)

2. 查找曲線上的特定點(diǎn)(光標(biāo)查找)

3. 分析曲線測(cè)量結(jié)果,計(jì)算統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)

4. 使用光標(biāo)值修改掃描范圍以及縱坐標(biāo)縮放

TH2851 可以在每條曲線上顯示 10 個(gè)光標(biāo),包括了參考光標(biāo)。

每個(gè)光標(biāo)有一個(gè)激勵(lì)值(坐標(biāo)系 X 軸對(duì)應(yīng)的數(shù)值)和響應(yīng)值(坐標(biāo)系 Y 軸對(duì)應(yīng)的數(shù)值)。

光標(biāo)查找功能允許搜索下列條件測(cè)量點(diǎn):z大值、z小值

峰谷值: 峰值(極大值)、谷值(極小值)、光標(biāo)左側(cè)z近的峰谷值、光標(biāo)右側(cè)z近的峰谷值、多重峰谷值

目標(biāo)值: 距離光標(biāo)z近的目標(biāo)值、光標(biāo)左側(cè)z近的目標(biāo)值、光標(biāo)右側(cè)z近的目標(biāo)值、多重目標(biāo)值

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G.強(qiáng)大的圖形分析功能

1) 曲線分選功能

可以對(duì)掃描曲線全部或者部分區(qū)域的測(cè)試值進(jìn)行合格/不合格判斷,常用于諧振曲線刷選如壓電元件等諧振頻率篩選。

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2)等效電路分析測(cè)試

現(xiàn)實(shí)生活中不同類(lèi)型的器件可以被等效成簡(jiǎn)單的三參數(shù)四種模型、四參數(shù)三種模型的阻抗器件,等效電路分析測(cè)試功能提供了7種基本的電路模型用于等效這些器件。

可以通過(guò)仿真的等效電路參數(shù)值的阻抗擬合曲線與實(shí)際測(cè)量的阻抗曲線進(jìn)行對(duì)比,還可以通過(guò)您輸入的參數(shù)按照所選擇的模型進(jìn)行擬合。

等效的電路模型可以直接輸出成TXT文檔方便用戶(hù)保存使用

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3) 晶體振蕩器分析

對(duì)壓電陶瓷等晶體進(jìn)行測(cè)量以及性能分析,測(cè)量計(jì)算后獲取晶體的諧振頻率、反諧振頻率、品質(zhì)因數(shù)等重要參數(shù)。

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4) 曲線軌跡對(duì)比

曲線軌跡對(duì)比用于對(duì)被測(cè)件進(jìn)行連續(xù)測(cè)量,所有曲線顯示在同一個(gè)坐標(biāo)系中。由下列兩種應(yīng)用:

a) 針對(duì)多種不同被測(cè)件

對(duì)比不同測(cè)量條件下的曲線軌跡

設(shè)置不同的頻率點(diǎn),計(jì)算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測(cè)量值

b) 針對(duì)同一個(gè)被測(cè)件

對(duì)比同一個(gè)條件下測(cè)量的多次測(cè)量結(jié)果重復(fù)性

設(shè)置不同頻率點(diǎn),計(jì)算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測(cè)量值。

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F.標(biāo)配附件

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F.選配附件

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