內(nèi)置4路脈沖發(fā)生器，用于內(nèi)部源調(diào)制、中頻門控制，并從后面板輸出。每路脈沖發(fā)生器的脈寬和延時獨立可設(shè)。

源調(diào)制來源包括后面板輸入、內(nèi)部脈沖發(fā)生器和常開、常閉等多種狀態(tài)，既可利用外部脈沖對矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的源進行調(diào)制，也可以使其處于連續(xù)波狀態(tài)，通過觸發(fā)同步模式進行測量，為雷達(dá)T/R組件、天線收發(fā)模塊等測試提供有力支撐。

提供完善的混頻器/變頻器特性設(shè)置，支持雙階本振、外部本振源輸入；支持線性掃、功率掃、段掃等多種掃描類型；通過簡單設(shè)置可自動完成復(fù)雜混頻器RF、雙LO、IF之間倍頻、分頻等特性計算；支持源端口功率、本振端口功率、衰減、功率掃特性設(shè)置等。

提供完整的混頻器/變頻器幅度響應(yīng)、絕對相位及絕對時延響應(yīng)測量能力。校準(zhǔn)過程中引入雙混頻器實現(xiàn)參考通路變頻與校準(zhǔn)通路的變頻。引入的雙混頻器要求與被測件的變頻特性一致，且校準(zhǔn)混頻器要求變頻特性互易。

單次連接即可完成混頻器/變頻器復(fù)數(shù)特性測量，幅度和相位測量精度高。

增益壓縮測量功能能夠通過一次連接、一次校準(zhǔn)完成有源器件在工作頻帶內(nèi)的線性增益、壓縮點增益、壓縮點輸入功率、壓縮點輸出功率、線性輸入匹配等壓縮參數(shù)測量。

提供三維視圖功能，更好地展示被測件在激勵狀態(tài)下的工作性能，另外還可以展示頻率切面和功率切面，可以直觀展現(xiàn)被測件在每個頻率點和每個功率點的特性。

噪聲系數(shù)測量

一次連接，可同時測試S參數(shù)、噪聲系數(shù)、噪聲參數(shù)、增益壓縮和變頻增益等多種參數(shù)?；诶湓丛肼曄禂?shù)測試方法，可進行精確的噪聲系數(shù)和噪聲參數(shù)測試。通過構(gòu)建*噪聲相關(guān)矩陣模型，結(jié)合矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀精密的S參數(shù)校準(zhǔn)，適用于較小噪聲系數(shù)被測件的精確測試。測量動態(tài)范圍z大可達(dá)55dB，適用于較大增益被測件的測試。

矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的每個端口都可以完成被測件的輸入譜和輸出譜的測量，可在小的分辨率帶寬下快速地定位被測件雜散譜和諧波的狀態(tài)。

針對有源器件的測試，頻譜測量功能可提供更多的測量參數(shù)，單臺儀器通過單次連接可實現(xiàn)常規(guī)的S參數(shù)測試、雜散和諧波的定位測量；完備的比值和絕對測量誤差修正技術(shù)可提供更準(zhǔn)確的測量結(jié)果。

信號完整性測量分析

具備強大的信號完整性測量分析能力，可提供微米級的空間分辨率。單一視圖同時完成時域和頻域測試分析，可以精準(zhǔn)測試傳輸線上阻抗特性的變化情況；便捷的近端與遠(yuǎn)端串?dāng)_測試，用于測試多條傳輸線之間相互影響的程度。

高級時域分析選件具備基于網(wǎng)絡(luò)參數(shù)的虛擬眼圖生成及分析功能。根據(jù)不同的高速數(shù)字通信標(biāo)準(zhǔn)，高級時域分析選件可以使用預(yù)先定義好的眼圖模板進行高效率Pass/Fail測試。

寬頻帶測試，可用于真差分激勵下的輸入輸出功率、增益、諧波總失真等參數(shù)的分析，簡化差分器件的諧波性能測試復(fù)雜度。

單次校準(zhǔn)同時完成多通道的誤差修正，設(shè)置和測量參數(shù)的編輯可通過XML文件的方式進行，一鍵實現(xiàn)參數(shù)導(dǎo)入。

對于非標(biāo)準(zhǔn)接頭器件測試，如封裝微波器件、在片器件等，此類器件無法與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀直接相連。通常使用夾具將被測件連接到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀上，但同時夾具也引入了測量誤差。自動夾具移除功能可以進行夾具參數(shù)的提取、存儲以及夾具去嵌入，最終獲得被測件的真實參數(shù)。

界面簡潔直觀，便于操作，提高測試效率

1-10MHz外參考輸入/輸出接口

2-110V/220V自適應(yīng)電源輸入

3-可拆卸CPU模塊，配置硬盤、LAN、DP、USB、GPIB接口

4-激勵輸出、本振輸出等接口，提供靈活的測量配置，提供靈活的測量配置

5-外中頻輸入接口，脈沖輸入輸出接口

6-偏置T配置輸入接口

7-自動測試接口，觸發(fā)輸入/輸出接口，噪聲源電源接口